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校正件：表面粗糙度
校正方法	范围		认可之最佳校正能力	备注
自订之表面粗糙度校正程序	Ra ≦ 4 μm		Ra： 0.16 μm
(文件编号：L-IP-86-01-001)	Ry ≦ 12 μm		Ry： 0.70μm
校正件：直圆度标准球
校正方法	范围		认可之最佳校正能力	备注
自订之真圆度校正程序	失圆度 ≦ 8 μm		0.07 μm
(文件编号：L-IP-86-02-001)	外径： 0.5 ≦ φ ≦ 200 mm
校正件：工具显微镜（含游校）
校正方法	范围		认可之最佳校正能力	备注
自订之工具显微镜校正程序	载物台行程		3.2 μm
(文件编号：L-IP-86-02-003)	X： 0 ~100 mm		3.2 μm
	Y： 0 ~ 50 mm
校正件：投影仪（含游校）(光学尺定位型/测微器定位型)
校正方法	范围		认可之最佳校正能力	备注
自订之投影仪校正程序	1	投影幕 ≦ φ 300 ㎜
(文件编号：L-IP-86-02-002)	2	载物台行程光学尺定位
		X： 0 ~ 100 ㎜	X： 0.003 ㎜
		Y： 0 ~ 50 ㎜	Y： 0.003 ㎜
		测微器定位
		X： 0 ~ 50 ㎜	X： 0.002 ㎜
		Y： 0 ~ 50 ㎜	Y： 0.002 ㎜
	3	放大倍率
		10倍	X： 0.0022 %
		20倍	Y： 0.0035 %
	4	角度：0° ~ 360°
校正件：坐标量测仪
校正方法	范围		认可之最佳校正能力	备注
自订三次元量测仪校正程序	X=700㎜		轴向
(文件编号：L-IP-88-02-005)	Y=1000㎜		4.0 μm+3.82*L*△T*(1.0*E-6)
	Z=600㎜		空间
	(分辨率：0.0005㎜)		4.04 μm+3.82*L*△T*(1.0*E-6)
			L：实际校正长度
			△T：环境温度与20 ℃之偏差值
校正件：硬度标准块
校正方法	范围		认可之最佳校正能力	备注
自订硬度量测仪校正程序	（20 to 70）HRC		0.60 HRC
(文件编号：L-IP-92-11-001)	（80 to 85）HRA		0.30 HRA
	（90 to 95）HRB		0.60 HRB
备注：认可最佳校正能力以95%信赖水平扩充不确定度表示。

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